Buluş, tersinir ve korunumlu kapılar kullanılarak eşzamanlı (çevrimiçi) hataların CMOS devrelerde %100 tespitini sağlayan bir yöntem ile ilgilidir. Söz konusu yöntem ile CMOS devrelerinde oluşan hatalar maskelenmeden tespit edilebilmektedir.